Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии

В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конфигураций. Проведена диагностика фрактальных размерностей временных зависимостей токов переключения поляризации, индуцированных электронным зондом. Разработана модель, позволяющая описать процесс формирования отклика сегнетоэлектриков в режиме токов электронно-стимулированной поляризации, с учетом фрактального характера динамики доменной структуры. Установлены закономерности изменения формы кривой импульса тока переключения в режиме инжекции при вариации параметров моделирования, соответствующих различным условиям экспериментального наблюдения. Монография предназначена для специалистов, работающих в области сегнетоэлектричества, она может быть полезна исследователям, использующим фрактальные методы для анализа и моделирования сложных физических систем