- Main
- Engineering
- Thin film materials: stress, defect...
Thin film materials: stress, defect formation and surface evolution
L. B. Freund, S. SureshBu kitabı nə dərəcədə bəyəndiniz?
Yüklənmiş faylın keyfiyyəti necədir?
Kitabın keyfiyyətini qiymətləndirə bilmək üçün onu yükləyin
Yüklənmiş faylların keyfiyyəti necədir?
This book provides comprehensive coverage of stress, defect formation and surface evolution in thin films. With its balanced coverage of theory, experiment and simulation and many homework problems, the text will be essential reading in senior undergraduate and graduate courses on thin films.
Kateqoriyalar:
İl:
2003
Nəşr:
1
Nəşriyyat:
Cambridge University Press
Dil:
english
Səhifələr:
820
ISBN 10:
0521822815
ISBN 13:
9780521822817
Seriyalar:
Cambridge Pocket Clinicians
Fayl:
PDF, 12.40 MB
Sizin teqləriniz:
IPFS:
CID , CID Blake2b
english, 2003
Onlayn oxumaq
- Yüklə
- pdf 12.40 MB Current page
- Checking other formats...
- Çevirmək
- 8 MB-dən böyük faylların çevrilməsi funksiyasını blokdan azad edinPremium
Kitab mağazasını əlavə etmək istəyirsiniz? Bizimlə support@z-lib.do ilə əlaqə saxlayın
1-5 dəqiqə ərzində e-poçtunuz bərpa olunacadır.
1-5 dəqiqə ərzində fayl sizin Telegram akkauntunuza çatdırılacaq.
Diqqət: Hesabınızı Z-Library Telegram botuna bağladığınızdan əmin olun.
1-5 dəqiqə ərzində fayl Kindle cihazınıza çatdırılacaq.
Qeyd: Kindle-yə göndərdiyiniz hər kitabı verifikasiyadan keçirməlisiniz. Amazon Kindle Support-dan təsdiq məktubunu aldığınıza dair e-poçt ünvanınızı yoxlayın.
formatına konvertasiya yerinə yetirilir
formatına konvertasiya baş tutmadı
Premium statusun üstünlükləri
- Elektron oxuculara göndərin
- Artırılmış yükləmə limiti
- Faylları çevirin
- Daha çox axtarış nəticəsi
- Digər üstünlüklər